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LA-80超声波测厚仪(单晶超薄测厚型)

LA-80超声波测厚仪(单晶超薄测厚型)

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产品编号:SN20190629175147530
市场价格:¥12800.00
购买价格:¥9800.00

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产品描述

LA-80型便携式数字超声波测厚仪(单晶超薄测厚型),采用脉冲反射超声波测量原理,适用于超声波能以一恒定速度在其内部传播,并能从其背面得到反射的各种材料厚度的测量,测量分辨率高达0.001mm。此仪器可对各种板材和各种加工零件作精确测量,适合测量金属(如钢、铸铁、铝、铜等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纤维及其他任何超声波的良导体的厚度,可被广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。

本产品符合以下标准:

《超声波测厚仪校准规范》 JJF 1126-2004

仪器特点

●采用高精度计时芯片和V-PATH校准模型,实现精准测量,显示分辨率高达0.001mm,可智能语音播报测量结果

●同时支持单晶探头和双晶探头,既可对超薄工件进行精确测量,又能兼顾常规大量程测量

●支持实时温度补偿,消除探头温度变化引起的测量误差,探头插入仪器后只需校准一次即可长期使用,无需频繁校准

●可进行穿越涂层测量(0—1000μm),并同时测量涂层和基材厚度(高级版)

●内置蓝牙模块,可与PC机或智能终端设备进行有线、无线数据传输,并可进行无线打印

●支持实时在线测量、上位机指令控制(指令版)

主要功能

具有脉冲回波(P-E)、界面回波(I-E)和回波回波(E-E)多种测量方式,可进行常规测量和穿越涂层测量(部分功能仅限高级版)

多档增益可调,可根据实际测量工件进行设置,在不同场景下达到最佳测量效果

具有上下限扫描、差值测量、超限报警等多种测量模式

已知厚度可以反测声速,以提高测量精度

显示信息丰富,包括厚度值、声速、耦合状态、回波数、电量状态、时间等

完整保存测量信息,包括测量厚度、测量声速、测量时间等

主要技术参数


探头技术指标


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