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超声波探伤仪AVG曲线的制作步骤及使用方法

2017-12-01 13:25:08 三木科仪 WWW.SANMUKEYI.COM 点击数:

超声波探伤仪AVG曲线的制作步骤及使用方法

1. AVG 选项

AVG曲线的定义和作用

AVG曲线的定义:

AVG曲线是根据记录的已知形状及大小的人工反射体回波通过理论计算得出的一条参考曲线。

AVG的作用:

超声波探伤时检测缺陷的当量Ф值尺寸(大小)。

注:按【确认】键启动右侧的功能选项下拉列表,旋转旋钮选择AVG曲线,再按【确认】键进入AVG模式。

2. AVG曲线的制作步骤

 说明:在使用AVG功能以前,需要完成:

1)校准探伤仪和探头的综合性能

2)设置与脉冲发生器、接收器和材料声速相关的超声波探伤仪设置

记录AVG参考回波后超声波探伤仪的校准或一些参数设置的改变会影响到AVG的测量,因此这些参数调整时会出现提示并不允许更改。请在记录参考回波前完成上述的工作。

AVG曲线制作步骤如下:

第一步:启动AVG菜单,按【F5】键至第2页,输入以下探头性能参数:

①晶片频率:探头上标称的频率值;

②晶片直径:圆形晶片输入晶片的直径,其它形状的晶片输入与晶片面积相等的圆形晶片的直径,即等效直径。如矩形晶片的有效尺寸按下面的公式换算:

其中:D    —— 等效直径

         a、b —— 矩形晶片的长度和宽度

第二步:按【F5】键至第3页

a. 连续按参考类型下的【F2】键,选择以下三种参考类型中的一种。

•大平底——底面回波的缺陷参考尺寸为无穷大

•长横孔——横孔的缺陷参考尺寸为孔的直径

•平底孔——平底孔的参考缺陷尺寸等于孔的截面直径

b. 按【F3】键,选择参考尺寸,旋转旋钮调整为已知的标准参考缺陷尺寸

注:当反射体类型选择为大平底时可不用调整反射体尺寸

第三步:按【F5】键至第4页,再按【F2】输入T衰减,按【F3】输入探头校正

①T衰减:用于标定参考回波的标准试块所用材料的声波衰减值(dB/inch或dB/mm);

②探头校正:当使用斜探头时根据探头数据清单上的值进行修正。

第四步:将探头置于标准试块上,使参考缺陷的最高反射回波显示在探伤仪屏幕上,并调整A闸门的起点以保证回波在该闸门内(可打开并使用波峰记忆功能帮助快速锁定最高波)。

第五步:按此时“上一页”菜单下的【F1】键至AVG模式的第一页,按两次【F4】键,记录参考里的数字由0调整为1,此时AVG曲线自动生成。

注:当AVG曲线生成后,“ ”将出现在指示符号栏中(右上角)。AVG曲线可随其他设置参数一同进行存储在通道里,在调用通道文件时,AVG曲线可一同被调出。

3. 使用AVG曲线

校正AVG曲线

由于被测材料与标准试块的差异,需要根据被测材料的特性对标定的AVG曲线进行校正和补偿,进入校准子菜单,完成此如下功能:

①P衰减:设定被检工件材料的声衰减值。如果被测工件和试块材料相同则无需设置P衰减

②表面补偿:因被测材料与标准试块的表面粗糙度不同引起的衰减误差。

调整AVG曲线的当量值

当使用长横孔或平底孔标定AVG曲线后,屏幕上显示的AVG曲线是由标定曲线换算得出的当量曲线,其当量值可通过AVG曲线功能项进行调整。当AVG曲线当量值与用于标定的标准反射体大小相同时即为标定曲线。调整AVG曲线当量值可按下面的步骤进行:

第一步:进入AVG曲线菜单。

第二步:按【F2】键选择AVG曲线功能项,然后旋转旋钮调整AVG曲线当量值。

AVG模式下的6个测量结果

开启AVG曲线,反射回波将自动与AVG 曲线进行比较,自动计算并将结果显示在屏幕上,与AVG检测模式有关的的结果主要有以下6个:

A%cA A闸门测定的反射体回波波幅与AVG曲线高度的百分比(AVG模式)
A%cB B闸门测定的反射体回波波幅与AVG曲线高度的百分比(AVG模式)
dBcA A闸门测定的反射体回波波幅与AVG曲线高度的dB差(AVG模式)
dBcB B闸门测定的反射体回波波幅与AVG曲线高度的dB差(AVG模式)
ФA A闸门测定的反射体回波波幅计算出的缺陷当量(AVG模式)
ФB B闸门测定的反射体回波波幅计算出的缺陷当量(AVG模式)

删除AVG曲线

进入AVG菜单后,按【F5】键进入第三页,按两次【F5】键即可删除曲线。

注:

1. AVG曲线可存储在通道里,并可自由调出;也可在波形存储时进行存储,并可随该波形一同调出。

2. 删除AVG曲线功能仅删除当前内存中的信息,不改变其它的参数设置和通道存储。

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