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超聲波探傷儀AVG(DGS)曲線的製作步驟及使用方法

2017-12-01 13:25:08 三木科儀 WWW.SANMUKEYI.COM 點擊數:

超聲波探傷儀AVG(DGS)曲線的製作步驟及使用方法

1. AVG 選項

AVG曲線的定義和作用

AVG曲線的定義:

AVG曲線是根據記錄的已知形狀及大小的人工反射體回波通過理論計算得出的一條參考曲線。

AVG的作用:

超聲波探傷時檢測缺陷的當量Ф值尺寸(大小)。

注:按【確認】鍵啟動右側的功能選項下拉列表,旋轉旋鈕選擇AVG曲線,再按【確認】鍵進入AVG模式。

2. AVG曲線的製作步驟

 說明:在使用AVG功能以前,需要完成:

1)校準探傷儀和探頭的綜合性能

2)設置與脈衝發生器、接收器和材料聲速相關的超聲波探傷儀設置

記錄AVG參考回波後超聲波探傷儀的校準或一些參數設置的改變會影響到AVG的測量,因此這些參數調整時會出現提示並不允許更改。請在記錄參考回波前完成上述的工作。

AVG曲線製作步驟如下:

第一步:啟動AVG菜單,按【F5】鍵至第2頁,輸入以下探頭性能參數:

①晶片頻率:探頭上標稱的頻率值;

②晶片直徑:圓形晶片輸入晶片的直徑,其它形狀的晶片輸入與晶片麵積相等的圓形晶片的直徑,即等效直徑。如矩形晶片的有效尺寸按下麵的公式換算:

其中:D    —— 等效直徑

         a、b —— 矩形晶片的長度和寬度

第二步:按【F5】鍵至第3頁

a. 連續按參考類型下的【F2】鍵,選擇以下三種參考類型中的一種。

•大平底——底麵回波的缺陷參考尺寸為無窮大

•長橫孔——橫孔的缺陷參考尺寸為孔的直徑

•平底孔——平底孔的參考缺陷尺寸等於孔的截麵直徑

b. 按【F3】鍵,選擇參考尺寸,旋轉旋鈕調整為已知的標準參考缺陷尺寸

注:當反射體類型選擇為大平底時可不用調整反射體尺寸

第三步:按【F5】鍵至第4頁,再按【F2】輸入T衰減,按【F3】輸入探頭校正

①T衰減:用於標定參考回波的標準試塊所用材料的聲波衰減值(dB/inch或dB/mm);

②探頭校正:當使用斜探頭時根據探頭數據清單上的值進行修正。

第四步:將探頭置於標準試塊上,使參考缺陷的最高反射回波顯示在探傷儀屏幕上,並調整A閘門的起點以保證回波在該閘門內(可打開並使用波峰記憶功能幫助快速鎖定最高波)。

第五步:按此時“上一頁”菜單下的【F1】鍵至AVG模式的第一頁,按兩次【F4】鍵,記錄參考裏的數字由0調整為1,此時AVG曲線自動生成。

注:當AVG曲線生成後,“ ”將出現在指示符號欄中(右上角)。AVG曲線可隨其他設置參數一同進行存儲在通道裏,在調用通道文件時,AVG曲線可一同被調出。

3. 使用AVG曲線

校正AVG曲線

由於被測材料與標準試塊的差異,需要根據被測材料的特性對標定的AVG曲線進行校正和補償,進入校準子菜單,完成此如下功能:

①P衰減:設定被檢工件材料的聲衰減值。如果被測工件和試塊材料相同則無需設置P衰減

②表麵補償:因被測材料與標準試塊的表麵粗糙度不同引起的衰減誤差。

調整AVG曲線的當量值

當使用長橫孔或平底孔標定AVG曲線後,屏幕上顯示的AVG曲線是由標定曲線換算得出的當量曲線,其當量值可通過AVG曲線功能項進行調整。當AVG曲線當量值與用於標定的標準反射體大小相同時即為標定曲線。調整AVG曲線當量值可按下麵的步驟進行:

第一步:進入AVG曲線菜單。

第二步:按【F2】鍵選擇AVG曲線功能項,然後旋轉旋鈕調整AVG曲線當量值。

AVG模式下的6個測量結果

開啟AVG曲線,反射回波將自動與AVG 曲線進行比較,自動計算並將結果顯示在屏幕上,與AVG檢測模式有關的的結果主要有以下6個:

A%cA A閘門測定的反射體回波波幅與AVG曲線高度的百分比(AVG模式)
A%cB B閘門測定的反射體回波波幅與AVG曲線高度的百分比(AVG模式)
dBcA A閘門測定的反射體回波波幅與AVG曲線高度的dB差(AVG模式)
dBcB B閘門測定的反射體回波波幅與AVG曲線高度的dB差(AVG模式)
ФA A閘門測定的反射體回波波幅計算出的缺陷當量(AVG模式)
ФB B閘門測定的反射體回波波幅計算出的缺陷當量(AVG模式)

刪除AVG曲線

進入AVG菜單後,按【F5】鍵進入第三頁,按兩次【F5】鍵即可刪除曲線。

注:

1. AVG曲線可存儲在通道裏,並可自由調出;也可在波形存儲時進行存儲,並可隨該波形一同調出。

2. 刪除AVG曲線功能僅刪除當前內存中的信息,不改變其它的參數設置和通道存儲。

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