“DAC曲線”和“TCG曲線”的概念、製作及應用

“DAC曲線”和“TCG曲線”的概念、製作及應用

1   DAC/TCG 選項

1.1   “DAC曲線”和“TCG曲線的”概念

1.1.1   DAC曲線的定義和作用

DAC定義：DAC是一條距離-波幅曲線，同一當量的缺陷隨著深度的增大，受信號的衰減、聲束的擴散及其他因素的影響，其回波幅度呈指數下降趨勢，把不同深度的同一當量的人工缺陷的反射回波幅度連成一條曲線，這條曲線就是DAC曲線；

DAC作用：DAC曲線是用於區分大小相同，但距離不同的反射體幅度的變化。通常情況下，在繪製好DAC曲線後，不管材料中反射體的位置如何，同樣大小的反射體產生的回波峰值均在同一條曲線上。同樣道理，比曲線所表示的反射體尺寸小的，其反射回波會落在該曲線下麵，而較大一些的會落在該曲線上麵。  

1.1.2   TCG曲線的定義和作用

TCG定義：TCG曲線是一條深度補償曲線，用DAC曲線沿深度方向的下降趨勢對不同深度的反射回波幅度進行補償，將所有的深度補償值連成一條曲線，這條曲線即是TCG曲線。

TCG作用：TCG功能通過對A掃描回波幅度進行深度補償後，使得同一尺寸反射體回波幅度與其在被檢材料中的深度無關。因此在TCG模式下，當探傷儀增益條件不變時更有利於發現位於材料內部較深位置的缺陷。激活DAC/TCG後將在指示符號欄中顯示 符號。

1.2 DAC/TCG曲線的製作和曲線設置

注：1.記錄參考點之前，需完成探傷儀與探頭的校準及必要的設置（收發、參數、設置等）。

2.本儀器最多可記錄16個點，2個點即可以自動生成DAC曲線，建議最少紀錄3個點。

3.參考點記錄以後，為不影響測量的準確性（參考國際探傷儀做法），這些設置將不允許修改。

1.2.1   DAC曲線製作步驟

DAC曲線表示位於不同深度相同尺寸反射體的回波幅度，探傷儀利用記錄的參考點來建立DAC曲線，DAC曲線製作步驟如下：

第一步：按【DAC】鍵，打開DAC菜單。

第二步：將探頭放在第一個反射孔附近並移動探頭獲得最高反射回波，如果需要，可調整增益使回波峰值接近滿屏的80%，但最高回波不得超過滿屏高度。調節A閘門起點，使A閘門套住該回波。

重要提示：按【峰值記憶】鍵，啟動峰值記憶功能可方便的尋找並記錄最高回波的峰值信息。

第三步：使A閘門位於第一個參考回波上並使回波穩定後，按標定點功能項下麵的【F3】鍵，選中該功能項，再按一下【F3】鍵，標定點由0變為1 時表示已將回波的最高點記錄下來。

第四步：重複第二、三步的方法，可記錄更多的回波波峰，當記錄兩個標定點時，DAC曲線自動生成。

1.2.2   刪除標定點

如需刪除標定點，可按刪除標定點功能項下麵的【F4】鍵執行刪除

注：刪除標定點功能刪除的是聲程最大位置的標定點（即屏幕最右側的標定點先被刪除），而不一定是最後標定的標定點，因此建議用戶盡量按聲程順序進行標定和刪除（先記錄深度小的反射孔的回波，再記錄更深的反射孔的回波）。

1.2.3   重新標定某個標定點

如果用戶隻是想對某一個標定點的幅度進行調整或重新標定，可使用第二頁的編輯標定點功能。

步驟是：

按【F5】鍵進入第二頁，按【F2】鍵選擇編輯標定點，繼續按【F2】鍵，該項參數由關變為開，同時第1個標定點以符號“*”顯示在回波區。

繼續按【F2】鍵切換到下一個標定點，直至參數變為關，

如此反複。選擇好要編輯的標定點後，按【F3】鍵選擇調整，旋轉參數調整旋鈕整此測試點的波幅曲線的高度。

重新標定

如需重新標定該標定點，按【F4鍵】選擇重標定，穩定回波後，再按一次【F4鍵】進行重新標定。

說明：當正確完成兩個標定點後，DAC曲線將自動繪製在屏幕上。

1.2.4   TCG曲線的生成

按如需探傷儀工作在TCG模式下，可修改DAC/TCG功能項，按DAC/TCG下的F1， 切換為TCG，再按【F5】鍵進入第四頁，修改評估曲線為基準線，TCG即會顯示在屏幕上。

1.2.5   設置DAC偏置曲線

按【DAC】鍵，再按【F5】鍵進入第三頁

按【F2】鍵選擇“評定線”菜單，旋轉旋鈕，可以調整評定線的偏置值

按【F3】鍵選擇“定量線”菜單，旋轉旋鈕，可以調整定量線的偏置值

按【F4】鍵選擇“判廢線”菜單，旋轉旋鈕，可以調整判廢線的偏置值

偏置曲線設置完成後，將顯示在屏幕上，並且在曲線的後麵標明偏置曲線的名稱，其中：

EL：評定線

SL：定量線

RL：判廢線

GL：基準線

1.2.6   設置曲線補償值

按【DAC】鍵，再連續按【F5鍵】進入第四頁

選擇表麵補償功能項，旋轉旋鈕調節並設定工件表麵補償值（隻對DAC模式有效）

選擇衰減功能項，旋轉旋鈕調節並設定材料衰減補償值（隻對TCG模式有效）；

說明：

1.工件表麵補償值用於補償因標定試塊與被測材料探測表麵耦合條件不同引起的差異。

2.材料衰減補償值用於補償因標定試塊與被測材料聲衰減係數不同引起的差異；

3.DAC/TCG參考點、曲線偏置及補償、DAC模式（關閉、TCG 、DAC）可隨其它參數一起被儲存在通道文件中，當需要調用時，可隨其它參數一同被調出。

1.3   DAC當量計算

在DAC模式下，DAC偏置曲線將屏幕回波顯示區劃分為幾個區域，例如圖7-1所示的三條DAC偏置曲線將屏幕劃分為四個區域，最上方的偏置曲線稱為判廢線，中間的偏置曲線稱為定量線，最下方的偏置曲線稱為評定線。運用DAC 曲線需要執行以下幾步：

第一步：進入DAC菜單後，選擇DAC/TCG功能項，旋轉旋鈕或連續按對應的【F1】鍵調節功能項內容，直到顯示為DAC。

第二步：選擇DAC當量計算結果顯示：

按【F5鍵】進入第三頁，選擇當量標準功能項，旋轉旋鈕或連續按對應的【F5】鍵選擇用於測量的DAC偏置曲線，被選中的曲線將以彩色顯示。

第三步：調整顯示讀數，將測量結果DACr設置為當前顯示；

第四步：移動A閘門套住被測的A掃描回波，則反射體回波波幅與DAC偏置曲線高度的dB當量差將會被計算並顯示。

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