CSK-IB、CSK-ZB超聲波探傷試塊（JB/T 8428-2015）

CSK-IB（CSK-IA、CSK-IB、 CSK-ZB）這3個型號是同一試塊，CSK-IA和CSK-IB兩個試塊的主要區別在於：CSK-IA隻有K值刻度,CSK—IB試塊在原有CSK-IA的基礎上增加了測試斜探頭折射角的刻度麵。

兩個試塊的主要區別在於：CSK-IA隻有K值刻度，CSK—IB試塊在原有CSK-IA的基礎上增加了測試斜探頭折射角的刻度麵。使用要點如下：

1)利用厚度25mm測定探傷儀的水平線性、垂直線性和動態範圍；

2)利用厚度25mm和高度100mm調整縱波探測範圍；

3)利用R50和R100校定時基線或測定斜探頭的入射點；

4)利用高度85、91、100ram測定直探頭的分辨力；

5)利用中40、中44、中50ram曲麵測定斜探頭的分辨力；

6)利用中50有機玻璃圓孔測定直探頭盲區和穿透能力；

7)利用中50曲麵和巾1．5橫孔測定斜探頭的K值；

8)利用高度9lmm(縱波聲程9lmm相當於橫波50mm)調節橫波1：1掃描速度，配合R100作零位校正；

9)、利用試塊直角棱邊測定斜探頭的聲軸偏斜角。